
天津国电仪讯科技有限公司
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内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器,测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用,在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描,但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比,使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善(使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍)。






基于VNA的测试系统为测量无线通信和航空/系统中所使用的射频和微波元件提供了动力。与传统VNA相比,Agilent PNA-X微波网络分析仪的先进体系结构具有更大的灵活性,使工程师们可以通过一次连接便能测量各种各样的元件。PNA-X内主要的增加项是第二个信号源和内部宽带信号合路器,从而简化了放大器、混频器和变频器的测量。除S参数、压缩和谐波的传统单信号源测量之外,两个信号源还可用于IMD、相位随驱动的变化、热态S参数和真实激励模式的测试。PNA-X端口上信号源的高功率输出、低谐波和宽功率扫描范围的属性完全适应当前器件的测试要求。
探头N1501A-104,频率500MHz至50GHz,细长设计融合了出色的坚固性和耐高温性以及宽频率范围。探头的探针端和连接器端都经过密封,因此是坚固耐用的探头。探头能够承受–40至 +200℃的温度范围,因此可以测量材料特性随频率和温度的变化。探头经过热压处理,非常适合灭菌要求很高的食品、和化工行业应用。同轴探头法的优点:可利用Ecal实时更新校准,方便易用、基本无需对样品加工、非破坏性、频率宽.
传输线法需要将材料置于一部分封闭的传输线内部。线路通常是一段矩形波导或同轴空气线。介电常数根据反射信号 (S 11) 和发射信号 (S 21) 的测量结果计算得出。

吴经理先生
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