校准过程重要，但是校准结果的确认一样重要，对于校准结果的确认，需要从各个数据和校准方式着手。校准完成以后，取下开路元件，正确的校准方式下，测试曲线会在Smith Chart的开路点，其次就是对负载校准特性的检查，校准后连接好测试端口和负载件。

这些方面可以作为校准网络分析仪的参考标准，如果企业自身就具备较为的人员，以及体系比较完善的校准方案，可以从这几个方面来进行操作，如果并具备这样的条件和能力，也可以让第三方校准机构来处理，具体方案可以根据企业需求来制定。

企业视频展播，请点击播放

视频作者：天津国电仪讯科技有限公司

矢量网络分析仪（VNA）是测定元件特性经常使用的仪器。传统VNA包含一个给被测器件（DUT）和多测量接收机提供激励的射频信号发生器，以测量信号在正向传输和反向传输时入射、反射和传输信号（图1）。信号源在固定功率电平进行扫频以测量S参数，而在固定频率上对其功率扫描，可以测量放大器的增益压缩和AM-PM转换。这些测量能测定线性和简单非线性器件的性能。

对于基本的S参数和压缩测试，信号源和调谐到相同的频率。不过，通过使信号源和接收机频率偏移，将接收机调谐至激励频率的整数倍，也能测出放大器的谐波性能。使信号源和接收机频率偏移的能力同样可以测量频率转换器件（如混频器和变频器）的幅度、相位和群延迟性能。

基于VNA的测试系统为测量无线通信和航空/系统中所使用的射频和微波元件提供了动力。与传统VNA相比，Agilent PNA-X微波网络分析仪的先进体系结构具有更大的灵活性，使工程师们可以通过一次连接便能测量各种各样的元件。PNA-X内主要的增加项是第二个信号源和内部宽带信号合路器，从而简化了放大器、混频器和变频器的测量。除S参数、压缩和谐波的传统单信号源测量之外，两个信号源还可用于IMD、相位随驱动的变化、热态S参数和真实激励模式的测试。PNA-X端口上信号源的高功率输出、低谐波和宽功率扫描范围的属性完全适应当前器件的测试要求。